冷热冲击试验箱 | 氙灯耐候试验箱 | 高低温湿热试验箱
当前位置: 网站首页 > 技术资料 >

PCT高压加速老化试验箱实验


  PCT高压加速老化试验箱是测验半导体封装之湿气才能,待测商品被置于苛刻之温度 湿度及压力下测验,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口进入封装体,多见之毛病方法为自动金属化区域腐蚀形成之断路,或封装体引脚间因污染形成短路等。

  PCT高压加速老化试验箱实验LED光源衰退因素:

  LED具有低电压 低能耗 长寿数 高可靠性 易保护等长处,已变成照明职业的干流。尽管LED光源已逐渐替代别的光源变成照明职业的干流,但其寿数及其可靠性仍有待进步,这已变成现阶段的研讨要点。

  LED光源可靠性一般采纳PCT高压加速老化试验箱进行一个温度加速老化实验,在LED样品实验中跟着老化时刻的增加,会产生光衰退,而产生光阑珊的因素有荧光粉 硅胶以及芯片的衰减。
pct老化试验箱

 
tag标签:PCT加速老化试验箱(9)PCT高压老化试验箱(10)pct老化试验箱国标(4)
 
如果您需要更多咨询,可以拨打页面底部的联系电话咨询,也可以直接拨打400免费热线:400-039-9905,了解公司最新价格信息.